Zxl-840 كاشف تسرب مطياف كتلة الهيليوم
- وصف
- سؤال
وصف
ZXL-840 Separated Helium Mass Spectrometer Leak Detector for semiconductor and electronics
أولاً, مقدمة المنتج
1.Separate design, easy to move quickly
2.نطاق كشف واسع, large and small leakage can be detected
3.Leak detection port high pressure resistance, مجموعة واسعة من التكيف
4.Full LCD touch color screen
5.حالة كشف التسرب صفر واضحة بمفتاح واحد
6.واجهة القائمة الإنجليزية والصينية
7.The vacuum pump is easy to maintain
8.ضمان طويل للأجزاء الأساسية.
ZXL-840 Separated Helium Mass Spectrometer Leak Detector for semiconductor and electronics
اثنين, المؤشرات الفنية الرئيسية
| الحد الأدنى لمعدل التسرب القابل للاكتشاف | 5×10-13Pa·m3/s | نطاق عرض معدل التسرب | 1×10-2 — 1×10-13Pa·m3/s |
| وقت بدء التشغيل | ≥3 دقائق | وقت الاستجابة | .01.0 ثانية |
| الحد الأقصى لضغط منفذ كشف التسرب | 1500بنسلفانيا | الضغط النهائي | 5×10-4 باسكال |
| سرعة ضخ المضخة الميكانيكية | 3لتر / ثانية | متطلبات إمدادات الطاقة | 220الخامس, 50هرتز, على مرحلة واحدة, 10أ |
| بيئة العمل | 5-35درجة مئوية | الرطوبة النسبية | ≥80% |
| الحجم الكلي | 550 (دبليو) ×420 (د) ×900 (ح) | وزن | 70كلغ |
ZXL-840 Separated Helium Mass Spectrometer Leak Detector for semiconductor and electronics
أولاً, مقدمة المنتج
1.Separate design, easy to move quickly
2.نطاق كشف واسع, large and small leakage can be detected
3.Leak detection port high pressure resistance, مجموعة واسعة من التكيف
4.Full LCD touch color screen
5.حالة كشف التسرب صفر واضحة بمفتاح واحد
6.واجهة القائمة الإنجليزية والصينية
7.The vacuum pump is easy to maintain
8.ضمان طويل للأجزاء الأساسية.
ZXL-840 Separated Helium Mass Spectrometer Leak Detector for semiconductor and electronics
أولاً, مقدمة المنتج
1.Separate design, easy to move quickly
2.نطاق كشف واسع, large and small leakage can be detected
3.Leak detection port high pressure resistance, مجموعة واسعة من التكيف
4.Full LCD touch color screen
5.حالة كشف التسرب صفر واضحة بمفتاح واحد
6.واجهة القائمة الإنجليزية والصينية
7.The vacuum pump is easy to maintain
8.ضمان طويل للأجزاء الأساسية.
ZXL-840 Separated Helium Mass Spectrometer Leak Detector for semiconductor and electronics
اثنين, المؤشرات الفنية الرئيسية
| الحد الأدنى لمعدل التسرب القابل للاكتشاف | 5×10-13Pa·m3/s | نطاق عرض معدل التسرب | 1×10-2 — 1×10-13Pa·m3/s |
| وقت بدء التشغيل | ≥3 دقائق | وقت الاستجابة | .01.0 ثانية |
| الحد الأقصى لضغط منفذ كشف التسرب | 1500بنسلفانيا | الضغط النهائي | 5×10-4 باسكال |
| سرعة ضخ المضخة الميكانيكية | 3لتر / ثانية | متطلبات إمدادات الطاقة | 220الخامس, 50هرتز, على مرحلة واحدة, 10أ |
| بيئة العمل | 5-35درجة مئوية | الرطوبة النسبية | ≥80% |
| الحجم الكلي | 550 (دبليو) ×420 (د) ×900 (ح) | وزن | 70كلغ |
ZXL-840 Separated Helium Mass Spectrometer Leak Detector for semiconductor and electronics
أولاً, مقدمة المنتج
1.Separate design, easy to move quickly
2.نطاق كشف واسع, large and small leakage can be detected
3.Leak detection port high pressure resistance, مجموعة واسعة من التكيف
4.Full LCD touch color screen
5.حالة كشف التسرب صفر واضحة بمفتاح واحد
6.واجهة القائمة الإنجليزية والصينية
7.The vacuum pump is easy to maintain
8.ضمان طويل للأجزاء الأساسية.
