Beschreibung

MMD-SV100 Benchtop Roughness Tester,Surface Roughness Analyzer

Principle of instrumental

The instrument is cartesian coordinate measuring method, stylus contact type. Axis X uses high-precision linear guide rail as the benchmark, axis Z1 uses digital sensor to map the coordinate points of the surface contour shape of the measured parts, and carries out mathematical operation and processing on the original data collected by the sensor through computer software to mark the required measurement items.

Measurement functions

Roughness analysis: Ra, Rq, Rz, Rp, Rt, Rsk, Rsm, Rc, Rz(AUS), R3z, Rz(ER), Rpmax

Rpm, Rku, Rdq/R△q, RδC, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk, Rk, Rdc, A1, A2

Rx, AR, Rpc, Rmax, RZ-ISO, 4eins, Ry

Ripple analysis: Wt, Wa, Wp, Wv, Wq, Wc, Wku, Wsk, W, Wx, Wz, Wsm, Wdc, Wte

Wmr, Aw, C(Wmr), Wmr(C), Wdq/W△q

Original contour analysis: Pt, Pa, Pp, Pv, Pq, Stk, Pku, Psk, Pdq/ P-Q, Psm, Pdc, Pr(C), Pz

Der Pmr, C (Pr)

MMD-SV100 Benchtop Roughness Tester,Surface Roughness Analyzer

Technische Spezifikation

ArtikelSpezifikation
MessbereichX-Achsen-Treiber100mm
Z1 (Sensor)

Rauheits- und Konturenteilung

15mm
Säulenhöhe400mm
Genauigkeit messenX-Achse

(L=X-Achse Bewegungsführungsabstand)

±(0.8+0.2L/100)μm
Z1-Achse

(H=Z1-Achsenrichtung misst die Höhe)

±(0.8+|0.2H|/100)μm
Restwertkontur≤0,005μm
Fehlerwert≤±(5nm+0,1A)
Wiederholbarkeit der Anzeige≤±3%
X-AchseGeradheit0.6μm/100mm
Auflösung0.01μm
SensorTypGittersensor
Auflösung0.01μm
Länge auswertenλc×3、4、5、6、7
Grenzwellenlänge0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8mm
BewegungskontrolleGeschwindigkeit der Schienenbewegung0.02mm–4.0mm/s
Messgeschwindigkeit0.02mm– 4.0mm/s






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