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説明
膜厚計
1.導入
Elite XU-100 は、コンパクトな設計と優れた性能を備えたコスト効率の高い分光計です。, 膜厚分析に広く使用されています. マイクロフォーカシングX線発生装置と垂直光路システムを搭載, ズーム測距デバイスと強力なEFPソフトウェアを併用, ボトムアップ測定およびCスロットオープンハウジング設計, 複雑な表面形状や溝部も非破壊で効率的かつ高精度に検出できます。. 最低検出限界は0.005μm, 測定距離範囲は0～30mmです。.
2.応用分野
ファスナー Sn/Cu/Fe、ニッケル/銅、Ni/Cu/Fe
ハードウェア
ZnAl/Fe、亜鉛/鉄、ZnNi/Fe
電子部品
Sn/Ni/Fe、持っています/私たち/一緒に、銀/銅
自動車部品 Zn/Fe、ZnNi/Fe、ZnAl/Fe、Cr/Ni/Cu/ABS
ジュエリーアクセサリー
Au/Pd/925Ag、Rh/Pd/Cu、 18あなた/Pd/Cu
ラジエーター NiP/AI
膜厚計
3.特性 1.ボトムアップ測定 試料へのピント合わせが容易 2. 高精度 X-Y ステージ 検査点に素早く正確にピント合わせ 3. マイクロフォーカス X 線発生器 至近距離でのスポット拡散率: 未満 10% 異なる種類の膜厚分析に適しています。 4.高性能比例計数計は、小さなサンプルでも数秒で安定した結果をもたらします, 高効率5.ズーム測距装置と距離補正法により幾何学的不規則な部品や一部の複雑な表面形状サンプルも解析可能, ～からの距離範囲を測定します 0 6.高度で強力なEFPソフトウェアの繰り返しコーティングおよび軽量または非金属コーティングの分析が可能
膜厚計
4.オプションのアクセサリ 溶液測定用アクセサリーセット 計量カップ2個とロールオフフィルムが付属, さまざまなブランドのXRF厚さ分析装置の溶液テストとして使用できます. 付属品 スーツケース 11.純正素子基板:銀, 銅, Cr, 鉄, で,亜鉛,ジル,モー,SN,W,アウ, Pb オプションの STD サンプル, サンプルホルダーセット.
基準/校正STD Eliteなどの他のブランドのXRF厚さ分析装置に適用できる、さまざまな高品質の校正標準を提供します。, フィッシャー, オックスフォード, Hatchi など。特別な要件がある場合は CNAS 証明書を提供できます。.
膜厚計
| モデル アイテム | XU-100 |
| 厚さ | Liからのめっき元素分析範囲(3)-U(92),23 コーティングと 24 元素を同時に分析できる, 異なるレイヤーの同じ要素も分析できます |
| 元素分析 | EFP |
| ソフトウェア | 元素分析範囲Cl(11)-U(92) |
| ユーザーフレンドリーなソフトウェア, 簡単操作,自己診断システム | |
| 分析時間 | 1-30s |
| 検出器 | パソコン(比例計数器) |
| X線管 | マイクロフォーカスX線管 |
| コリメータ | 標準:φ0.1mm,φ0.2mm,φ0.5mm, |
| スポット | スポット拡散率 10%(通常の測定距離で) |
| 測定距離 | 距離補正機能, 異なる距離のサンプルを同じ試験条件で試験可能,0-30測定距離 mm |
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カメラ | 1/2.7″カラーCCD, ズーム機能付き |
| 高感度レンズ, マニュアルフォーカス | |
| 光学38-46x, デジタル増幅 40-200 回 | |
| 寸法 | 470mm*550mm*480mm |
| チャンバーの高さ | 210んん |
| プラットホーム | 高精度XYステージ, 手動制御 |
| 最大移動範囲:50ミリメートル*50ミリメートル | |
| 重さ | 50KG |
| アクセサリー | コンピューターの資産, プリンター,アクセサリーボックス,12 要素ブロック,電気めっき液計量カップ (オプション),厚みの目安 (オプション) |
| 放射線基準 | DIN ISO3497/DIN 50987 および ASTM B568 |
