Opis

Laboratoryjny tester chropowatości MMD-SV100,Analizator chropowatości powierzchni

Principle of instrumental

The instrument is cartesian coordinate measuring method, stylus contact type. Axis X uses high-precision linear guide rail as the benchmark, axis Z1 uses digital sensor to map the coordinate points of the surface contour shape of the measured parts, and carries out mathematical operation and processing on the original data collected by the sensor through computer software to mark the required measurement items.

Measurement functions

Roughness analysis: Ra, Rq, Rz, RP, Rt, rupii, RSM, Rc, Rz(Z), R3z, Rz(ON), Rpmax

Rpm, Rku, Rdq/R△q, RδC, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk, Rk, Rdc, A1, A2

Odbiór, AR, Rpc, Rmax, RZ-ISO, 4jeden, Ry

Ripple analysis: Wt, Wa, Wp, Wv, Wq, Wc, Wku, Wsk, W, Wx, Wz, Wsm, Wdc, Wte

Wmr, Aw, C(Wmr), Wmr(C), Wdq/W△q

Original contour analysis: Pt, Rocznie, Pp, Pv, Pq, szt, Pku, Psk, Pdq/ P-Q, Psm, Pdc, Pmr(C), Pz

The Pmr, C (Pmr)

Laboratoryjny tester chropowatości MMD-SV100,Analizator chropowatości powierzchni

Specyfikacja techniczna

PrzedmiotSpecyfikacja
Zmierz zakresX axis driver100mm
Z1(sensor)

Roughness and contour sharing

15mm
Column height400mm
Zmierz dokładnośćX Axis

(L=X axis Moving guide distance)

±(0.8+0.2L/100)um
Z1 Axis

(H=Z1 axisd direction measure height)

±(0.8+|0.2H|/100)um
salvage value contour≤0.005μm
Wartość błędu≤±(5nm+0.1A)
Indication repeatability≤±3%
X axisstraightness0.6μm /100mm
rezolucja0.01um
sensortypGrating sensor
rezolucja0.01um
Evaluate lengthλc×3、4、5、6、7
Cutoff wavelength0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8mm
Motion controlSpeed of rail movement0.02mm–4.0mm/s
Prędkość pomiaru0.02mm– 4.0mm/s






    został dodany do Twojego koszyka:
    Wymeldować się