MMD-SV100 Benchtop Roughness Tester,Surface Roughness Analyzer
- คำอธิบาย
- สอบถามรายละเอียดเพิ่มเติม
คำอธิบาย
MMD-SV100 Benchtop Roughness Tester,Surface Roughness Analyzer
Principle of instrumental
The instrument is cartesian coordinate measuring method, stylus contact type. Axis X uses high-precision linear guide rail as the benchmark, axis Z1 uses digital sensor to map the coordinate points of the surface contour shape of the measured parts, and carries out mathematical operation and processing on the original data collected by the sensor through computer software to mark the required measurement items.
Measurement functions
Roughness analysis: รา, ตร, รซ, รูเปียห์, รต, อาร์เอส, ฿, Rc, รซ(จาก), R3z, รซ(เขา), Rpmax
Rpm, รกุ, Rdq/R△q, RδC, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk, Rk, Rdc, A1, A2
รับ, AR, Rpc, Rmax, RZ-ISO, 4หนึ่ง, Ry
Ripple analysis: Wt, Wa, Wp, Wv, Wq, Wc, Wku, Wsk, ว, Wx, Wz, Wsm, Wdc, Wte
Wmr, Aw, ค(Wmr), Wmr(ค), Wdq/W△q
Original contour analysis: พ.ต, ป้า, Pp, Pv, Pq, Pc, Pku, Psk, Pdq/ P-Q, Psm, Pdc, Pmr(ค), Pz
The Pmr, ค (Pmr)
MMD-SV100 Benchtop Roughness Tester,Surface Roughness Analyzer
ข้อกำหนดทางเทคนิค
| รายการ | ข้อมูลจำเพาะ | ||
| ช่วงการวัด | X axis driver | 100มม | |
| Z1（sensor） Roughness and contour sharing | 15มม | ||
| Column height | 400มม | ||
| Measure accuracy | X Axis （L=X axis Moving guide distance） | ±(0.8+0.2L/100)ไมโครเมตร | |
| Z1 Axis （H=Z1 axisd direction measure height） | ±(0.8+|0.2ชม|/100)ไมโครเมตร | ||
| salvage value contour | ≤0.005μm | ||
| Error value | ≤±(5nm+0.1A) | ||
| Indication repeatability | ≤±3% | ||
| แกนเอ็กซ์ | straightness | 0.6μm /100mm | |
| ปณิธาน | 0.01ไมโครเมตร | ||
| เซ็นเซอร์ | พิมพ์ | Grating sensor | |
| ปณิธาน | 0.01ไมโครเมตร | ||
| Evaluate length | λc×3、4、5、6、7 | ||
| Cutoff wavelength | 0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8มม | ||
| Motion control | Speed of rail movement | 0.02มม–4.0มิลลิเมตร/วินาที | |
| Measurement speed | 0.02มม– 4.0มิลลิเมตร/วินาที | ||
