опис

Настільний тестер шорсткості MMD-SV100,Аналізатор шорсткості поверхні

Principle of instrumental

The instrument is cartesian coordinate measuring method, stylus contact type. Axis X uses high-precision linear guide rail as the benchmark, axis Z1 uses digital sensor to map the coordinate points of the surface contour shape of the measured parts, and carries out mathematical operation and processing on the original data collected by the sensor through computer software to mark the required measurement items.

Measurement functions

Roughness analysis: Ра, Rq, Rz, Rp, Rt, Rsk, Rsm, Rc, Rz(ВІД), R3z, Rz(ВІН), Rpmax

Rpm, Rku, Rdq/R△q, RδC, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk, Rk, Rdc, A1, A2

Rx, AR, Rpc, Rmax, RZ-ISO, 4um, Ry

Ripple analysis: Wt, Wa, Wp, Wv, Wq, Wc, Wku, Wsk, В, Wx, Wz, Wsm, Wdc, Wte

Wmr, Aw, C(Wmr), Wmr(C), Wdq/W△q

Original contour analysis: Pt, Pa, Pp, Pv, Pq, Pc, Pku, Psk, Pdq/ P-Q, Psm, Pdc, Pmr(C), Pz

The Pmr, C (Pmr)

Настільний тестер шорсткості MMD-SV100,Аналізатор шорсткості поверхні

Технічна специфікація