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描述
MMD-SV100台式粗糙度仪,表面粗糙度分析仪
仪器原理
该仪器为直角坐标测量法, 触笔接触类型. X轴采用高精度直线导轨为基准, Z1轴采用数字传感器映射被测件表面轮廓形状的坐标点, 通过计算机软件对传感器采集的原始数据进行数学运算和处理,标记出所需的测量项目.
测量功能
粗糙度分析: 拉, Rq, Rz, RP, 保留时间, 卢比, 相对值, RC, Rz(从), R3z, Rz(他), 最大转速
转速, 鲁库, Rdq/R△q, δC, 先生1, 先生2, RPK, 房车, 瑞克, 电阻率, A1, A2
接收, 增强现实, 远程过程控制, 最大吸收率, RZ ISO, 4一, 瑞
纹波分析: 重量, 的, 水压, 功率, 水q, 厕所, 温州大学, 指标, 瓦, 维x, 瓦兹, 威斯敏, 西德, 瓦特
沃姆雷, 噢, C(沃姆雷), 沃姆雷(C), Wdq/W△q
原始轮廓分析: 铂, 帕, PP, 光伏, Pq, 个人电脑, 北库, 相移键控, Pdq/P-Q, 脉冲调制, PDC, 普雷(C), Pz
总理, C (普雷)
MMD-SV100台式粗糙度仪,表面粗糙度分析仪
技术规格
物品 | 规格 | ||
测量范围 | X轴驱动器 | 100毫米 | |
Z1(传感器) 粗糙度和轮廓共享 | 15毫米 | ||
立柱高度 | 400毫米 | ||
测量精度 | X轴 (L=X轴移动导轨距离) | ±(0.8+0.2升/100)微米 | |
Z1轴 (H=Z1轴方向测量高度) | ±(0.8+|0.2H|/100)微米 | ||
残值等值线 | ≤0.005μm | ||
误差值 | ≤±(5纳米+0.1A) | ||
示值重复性 | ≤±3% | ||
X轴 | 直线度 | 0.6微米/100毫米 | |
解决 | 0.01微米 | ||
传感器 | 类型 | 光栅传感器 | |
解决 | 0.01微米 | ||
评估长度 | λc×3、4、5、6、7 | ||
截止波长 | 0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8毫米 | ||
运动控制 | 轨道移动速度 | 0.02毫米–4.0毫米/秒 | |
测量速度 | 0.02毫米– 4.0毫米/秒 |