ASTM D 1400-2000 “Non-Destructive Measurement of Dry Film Thickness of Non-Conductive Coatings Applied to Non-ferrous Metal Substrates

Pohled do
1.1 The test method consists of a non-destructive measurement of the dry film thickness of a non-conductive coating applied to a non-ferrous metal substrate using a commercially available eddy current instrument. The test method is intended to complement the manufacturer’s instructions for the manual operation of the gauges, not to replace them.

1.2 This test method is not applicable to coatings that are prone to deform under the load of the measuring instrument because the instrument probe needs to be placed directly on the surface of the coating to take the reading.

1.3 Hodnoty vyjádřené v jednotkách SI se považují za normy. Hodnoty uvedené v závorkách jsou pouze orientační.

1.4 Tato norma není určena k řešení všech bezpečnostních problémů, jestli nějaký, spojené s jeho užíváním. Je odpovědností uživatelů této normy zavést vhodné bezpečnostní a zdravotní postupy a určit použitelnost regulačních omezení před jejím použitím..

Sdílet tento příspěvek