描述

涂层测厚仪 LT220

特征:

  • 两种测量方法: 磁感应(F) 和涡流(氮). 当配备F探头时, 可测量磁性基体上的非磁性涂层, 当配备N探头时, 可测量非磁性基材上的非导电涂层
  • 8 多种类型的探头可用于各种应用:F1,F1/90,F3,F10,F400,N1,N3,N400
  • 两种测量模式:继续/单次
  • 两种工作模式: 直接模式(探测) 和批处理模式(应用程序语言)
  • 5 统计方式:平均值/最大值/最小值/测试数(不。)/标准偏差(德夫)
  • 两种测量校准模式
  • 带背光显示
  • 640 可存储测量值
  • 低电量指示
  • 2 关闭模式: 手动和自动

 

涂层测厚仪 LT220

技术规格

测量范围参见下页表格
可用探头
宽容
最小分辨率
测量条件
操作语言英文/中文
标准从,国际标准化组织,美国材料试验协会,学士
校准零位和箔校准
界面USB
统计测量次数, 意思是, 标准差, 最大值和最小值
数据存储器640 读数
限制可调报警
电源镍氢充电电池
方面(毫米)230×86×47
操作环境温度:0〜40
湿度:20%〜90%
无强磁场

 

标准运送

 

姓名数字
主机1
探测(F1/N1)1
基质5
校准箔1
使用说明书1
通讯电缆1
数据查看软件1






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