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描述
涂层测厚仪 LT220
特征:
- 两种测量方法: 磁感应(F) 和涡流(氮). 当配备F探头时, 可测量磁性基体上的非磁性涂层, 当配备N探头时, 可测量非磁性基材上的非导电涂层
- 8 多种类型的探头可用于各种应用:F1,F1/90,F3,F10,F400,N1,N3,N400
- 两种测量模式:继续/单次
- 两种工作模式: 直接模式(探测) 和批处理模式(应用程序语言)
- 5 统计方式:平均值/最大值/最小值/测试数(不。)/标准偏差(德夫)
- 两种测量校准模式
- 带背光显示
- 640 可存储测量值
- 低电量指示
- 2 关闭模式: 手动和自动
涂层测厚仪 LT220
技术规格
测量范围 | 参见下页表格 |
可用探头 | |
宽容 | |
最小分辨率 | |
测量条件 | |
操作语言 | 英文/中文 |
标准 | 从,国际标准化组织,美国材料试验协会,学士 |
校准 | 零位和箔校准 |
界面 | USB |
统计 | 测量次数, 意思是, 标准差, 最大值和最小值 |
数据存储器 | 640 读数 |
限制 | 可调报警 |
电源 | 镍氢充电电池 |
方面(毫米) | 230×86×47 |
操作环境 | 温度:0〜40 |
湿度:20%〜90% | |
无强磁场 |
标准运送
姓名 | 数字 |
主机 | 1 |
探测(F1/N1) | 1 |
基质 | 5 |
校准箔 | 1 |
使用说明书 | 1 |
通讯电缆 | 1 |
数据查看软件 | 1 |