ASTM D 1400-2000 “Pengukuran Non-Destruktif Ketebalan Film Kering dari Lapisan Non-Konduktif yang Diterapkan pada Substrat Logam Non-besi”

Ruang lingkup
1.1 The test method consists of a non-destructive measurement of the dry film thickness of a non-conductive coating applied to a non-ferrous metal substrate using a commercially available eddy current instrument. The test method is intended to complement the manufacturer’s instructions for the manual operation of the gauges, bukan untuk menggantikannya.

1.2 This test method is not applicable to coatings that are prone to deform under the load of the measuring instrument because the instrument probe needs to be placed directly on the surface of the coating to take the reading.

1.3 Nilai yang dinyatakan dalam satuan SI harus dianggap sebagai standar. Nilai yang diberikan dalam tanda kurung hanya untuk referensi.

1.4 Standar ini tidak dimaksudkan untuk mengatasi semua masalah keselamatan, jika ada, terkait dengan penggunaannya. Pengguna standar ini bertanggung jawab untuk menetapkan praktik keselamatan dan kesehatan yang sesuai dan menentukan penerapan pembatasan peraturan sebelum digunakan..

Bagikan postingan ini