Röntgenfluorescentie is altijd een belangrijke methode voor elementaire analyse geweest, en het is ook geschikt voor monsterlaagdikte- en samenstellingsanalyse.

Als u zich bezighoudt met analytische testwerkzaamheden in de volgende sectoren, XRF is ongetwijfeld uw analytische testtool.

De röntgenfluorescentiemethode wordt toegepast op de laagdikte- en samenstellingsanalyse

1. Edelmetalen, juwelen

Goud analyse, analyse van edelmetaallegeringen, sieraden beplating, platina-rhodinatie bij analyse

2. Staal, metalen beplating

Gegalvaniseerd staal/chroom, aluminium zirkonium/titanium plating, ha type legering diktemeting

3. De decoratiematerialen:

Analyse van decoratieve coatings

4. Elektronische apparaten:

PCB-printplaat, goldfinger en connector op Au/Ni/Cu, Au/Pd/Ni/Cu-dikte, lasbare prestatieanalyse zoals Ag/Cu/Epoxy, Naleving van de RoHS-richtlijn

De röntgenfluorescentiemethode wordt toegepast op de laagdikte- en samenstellingsanalyse

5. Nieuwe energie-/li-ionbatterij

Celmembraanabsorptielaag (zoals CIS, CIGS, CdTe) componentenanalyse, through the analysis of the coating thickness optimization of electrical conductivity

6. Microelectronics, halfgeleider

SMD electronic components, solar cells, solder joints and high precision sensor chip, flexible circuit boards, magnetic medium composition detection and RoHS directive compliance

7. Anticorrosive coating

De röntgenfluorescentiemethode wordt toegepast op de laagdikte- en samenstellingsanalyse

scientific development of Thick FP analysis focused on coating, coating thickness software can help customers quickly and easily for coating, coating thickness and composition analysis of the tasks, tot 5 layer thickness, 55 kinds of elements