ASTM D 1400-2000 “Non-Destructive Measurement of Dry Film Thickness of Non-Conductive Coatings Applied to Non-ferrous Metal Substrates

Saklaw ng
1.1 The test method consists of a non-destructive measurement of the dry film thickness of a non-conductive coating applied to a non-ferrous metal substrate using a commercially available eddy current instrument. The test method is intended to complement the manufacturer’s instructions for the manual operation of the gauges, hindi na palitan ang mga ito.

1.2 This test method is not applicable to coatings that are prone to deform under the load of the measuring instrument because the instrument probe needs to be placed directly on the surface of the coating to take the reading.

1.3 Values expressed in SI units shall be regarded as standards. Ang mga halaga na ibinigay sa mga panaklong ay para sa sanggunian lamang.

1.4 Ang pamantayang ito ay hindi nilayon upang matugunan ang lahat ng mga isyu sa kaligtasan, kung meron man, na nauugnay sa paggamit nito. Responsibilidad ng mga gumagamit ng pamantayang ito na magtatag ng angkop na mga kasanayan sa kaligtasan at kalusugan at upang matukoy ang pagiging angkop ng mga paghihigpit sa regulasyon bago gamitin.

Ibahagi ang post na ito